采用计量型扫描力显微镜校准微纳米标准样板

• 作者: DANZEBRINK Ulrich KOENDERS Ludger WILKENING Günter 周健雄 戴高良 陈振宇
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描力显微镜 微纳米标准样板 校准 溯源 干涉仪
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 纳米技术
• 页码范围: 10-19
• 页数: 10页
• 分类号: TN16
• 字数: 5419字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2006.01.002

摘要

为了建立质量保证体系,微米和纳米样板至今仍被广泛地应用于校准微纳米尺度的测量仪器中.介绍了应用由德国联邦物理研究所开发研究的、测量范围为25 mm×25 mm×5 mm的计量型扫描力显微镜(M-LRSFM)的校准方法.上述计量型扫描力显微镜配置有三个零拍的激光干涉仪,可分别测量沿x、y、z三条轴线方向的位移,因而其测量值可直接溯源于"米"定义.此种M-LRSFM能够校准横向的微纳尺度的结构尺寸,诸如阶梯高度、一维和二维光栅、镀层厚度、线宽、微纳尺度的表面粗糙度等.作为实例,介绍了一种横向样板的校准程序及获得的校准结果.研究表明这种方法适合于校验扫描电子显微镜(SEM)的放大倍率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈振宇	中国地质科学院矿产资源研究所	63	1301	20.0	33.0
2	周健雄	中国地质科学院矿产资源研究所	1	10	1.0	1.0