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摘要:
对2005年公布的<国际半导体就十时微蓝图>中光刻部分进行了介绍与分析,并与之前的版本进行比较,列出了光刻技术面临的挑战和潜在技术方案.最后指出,浸入式光刻、纳米压印、极紫外光刻和ML2将是未来几年重点研究对象.
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文献信息
篇名 《国际半导体技术蓝图》(2005版)光刻部分解析
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 国际半导体技术蓝图 光刻 挑战 ITRS
年,卷(期) 2006,(6) 所属期刊栏目 趋势与展望
研究方向 页码范围 3-5,11
页数 4页 分类号 TN3
字数 2260字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2006.06.002
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作者信息
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1 卞志昕 14 100 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
国际半导体技术蓝图
光刻
挑战
ITRS
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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