片上系统在动态测试领域的应用探讨

• 作者: 祖静 靳鸿
• 来源期刊: 中北大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 动态测试 片上系统 专用集成电路 系统级封装 片上可编程系统
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 电子与电子信息
• 页码范围: 541-544
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 2661字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3193.2006.06.018

摘要

在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(System on Chip)单片机、基于FPGA(Field Programmable Gate Array)的SoPC(Systems on a Programmable Chip),SIP(System-in-package),ASIC(Application Specific Integrated Circuits)等片上系统技术在动态测试领域中的应用进行了探讨.设计了SoC单片机及SoPC在动态测试中的应用方案,并进行了试验测试.结果表明,片上技术能更好地完成动态测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖静	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	164	1256	17.0	25.0
2	靳鸿	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	70	279	8.0	12.0