低压ZnO压敏电阻中Bi2O3-TiO2相变过程的研究

• 作者: 孙丹峰 徐政 范卓维 许业文
• 来源期刊: 硅酸盐通报
• 学科: 工学
• 关键词: 低压氧化锌压敏电阻 烧成温度 氧化铋 二氧化钛 晶粒晶界
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 专题论文
• 页码范围: 58-61,67
• 页数: 5页
• 分类号: TQ17
• 字数: 3245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1625.2006.03.013

摘要

在最高温度950℃、1050℃、1150℃、1250℃4个温度下,采用2种配方:98.3%ZnO-0.7%Bi2O3-1.0%TiO2(摩尔分数),相应的无TiO2配方99.3%ZnO-0.7%Bi2O3(摩尔分数),分别制备样品进行对比研究.发现前者在950℃和1050℃的烧结温度下,没有形成明显Bi2O3偏聚的晶界;在1150℃和1250℃下,却形成了清晰的富铋晶界.而后者在950℃、1050℃、1150℃、1250℃4个温度下均形成了非常明显且清晰可辨的ZnO晶粒和晶界.通过XRD及相对峰强分析,发现了Bi2O3和TiO2在低压ZnO压敏电阻中的相变过程,并对其在烧结过程中的作用提出新的解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐政	同济大学材料科学与工程学院	160	2312	24.0	39.0
2	许业文	同济大学材料科学与工程学院	10	141	4.0	10.0
6	范卓维	同济大学材料科学与工程学院	1	4	1.0	1.0
7	孙丹峰		16	169	7.0	12.0