Bi4Ti3O12掺杂对低压ZnO压敏电阻性能的影响

• 作者: 惠磊 曹全喜 王旭明
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 低压ZnO压敏电阻 Bi4Ti3O12 晶粒长大
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 52-54
• 分类号: TN304.2+1
• 字数: 1666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.07.016

摘要

Bi4Ti3O12在低压氧化锌压敏电阻器的烧结过程中起着重要作用.通过使用扫描电子显微镜(SEM)研究了添加Bi4Ti3O12粉体的陶瓷烧结过程.结果表明,使用纳米Bi4Ti3O12粉体的压敏电阻所获得的电压梯度更低,Zn2TiO4相的形态和分布影响压敏电压的分散性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹全喜	西安电子科技大学技术物理学院	92	638	13.0	21.0
2	王旭明	西安电子科技大学技术物理学院	2	7	1.0	2.0
3	惠磊	西安电子科技大学技术物理学院	1	0	0.0	0.0