BIT和ATE组合测试技术及其应用

• 作者: 姜静 孙校书 张小平
• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 机内测试 自动测试设备 组合测试 故障诊断
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 383-385
• 页数: 3页
• 分类号: TP206+.3
• 字数: 2899字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1522.2006.03.021

摘要

详细介绍了BIT和ATE组合测试技术及其在机载电子设备测试与故障诊断的具体应用.应用表明BIT和ATE组合测试技术可有效提高设备的测试性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙校书	海军航空工程学院科研部	19	65	4.0	7.0
2	姜静	海军航空工程学院控制工程系	33	122	7.0	9.0
3	张小平		8	23	2.0	4.0