电介质膜增强的Goos-H(a)nchen位移的微波测量

• 作者: 张纪岳 李春芳 杨晓燕 段弢
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: Goos-H(a)nchen位移 共振增强 电介质膜 微波测量
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 激光物理与激光化学
• 页码范围: 753-755
• 页数: 3页
• 分类号: O4
• 字数: 1337字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.06.007

摘要

如果在折射率较高的电介质基底上镀一层折射率较低的电介质薄膜(介质膜的另一侧为折射率更低的介质,如空气),并且恰当选择基底内光束的入射角,使得光束在基底-介质膜界面上折射到薄膜内、在薄膜-空气界面上全反射,那么反射光束的Goos-H(a)nchen(GH)位移在一定条件下会得到共振增强.采用微波技术直接地测量了这种Goos-H(a)nchen位移随电介质膜厚度的变化,测量结果与理论预言吻合得较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李春芳	中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点实验室	34	125	6.0	10.0
3	杨晓燕	华中科技大学光电子工程系	28	193	8.0	11.0
4	张纪岳	中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点实验室	6	31	4.0	5.0
7	段弢	中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学技术国家重点实验室	9	33	4.0	5.0