KPFM在电介质电荷行为研究中的应用

• 作者: 郭皓敏 张梓轩 贾贝贝 陈承相 吴锴 周峻 西安交通大学电气工程学院电力设备电气绝缘国家重点实验室
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 开尔文探针力显微镜(KPFM) 表面电势 电介质 电荷行为
• 年，卷（期）: 2024,（10）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-11
• 页数: 11页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2023.10.001

摘要

开尔文探针力显微镜（KPFM）是一种以纳米级分辨率对材料表面进行电势测量的重要工具，由于其对材料表面电荷的敏感性，近年来在电介质电荷行为研究中获得了广泛应用。本文介绍了KPFM的原理，归纳了KPFM应用于电介质中电荷行为的最新研究进展，重点分析了电介质中表面、界面电荷的扩散、迁移机制，还对KPFM在无机材料、纳米复合材料、铁电材料等典型电介质中的应用研究进行了综述。