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摘要:
介绍了一种基于光杠杆原理的光学微位移测量系统.该系统的理论分辨力为4nm,实验测得系统分辨力小于10nm.经过实验,验证了该系统的可行性.实验结果表明,该装置灵敏度及重复性好,结构简单,便于构成微电子机械系统--MEMS(micro electro mechnical systems),实现系统微型化及自动化.
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文献信息
篇名 基于光杠杆原理的纳米级微位移测量系统研究
来源期刊 光学仪器 学科 工学
关键词 光杠杆 纳米检测 PSD MEMS
年,卷(期) 2006,(2) 所属期刊栏目 仪器及装置
研究方向 页码范围 61-65
页数 5页 分类号 TH742
字数 2942字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5630.2006.02.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨国光 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 91 1226 21.0 30.0
2 刘晓旻 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 5 57 4.0 5.0
3 吴宇 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 7 216 6.0 7.0
4 张攀峰 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 2 34 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
光杠杆
纳米检测
PSD
MEMS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学仪器
双月刊
1005-5630
31-1504/TH
大16开
上海市军工路516号381信箱
1979
chi
出版文献量(篇)
2397
总下载数(次)
9
总被引数(次)
11659
论文1v1指导