基于粒子群算法的时序电路测试生成

• 作者: 李智 莫玮 许川佩
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 粒子群算法 自动测试生成 时序电路
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 6-9
• 页数: 4页
• 分类号: TM93
• 字数: 3414字
• 语种: 中文

摘要

本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果.结合时序电路的特点,构造测试生成的粒子表达方式,建立自动测试生成离散粒子群速度-位置模型,通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索.针对国际标准时序电路的验证结果表明,与同类算法相比,该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	西安电子科技大学机电工程学院	124	676	13.0	19.0
3	李智	桂林电子工业学院电子工程系	123	891	16.0	23.0
4	莫玮	桂林电子工业学院电子工程系	40	255	9.0	14.0