基于粒子群算法的数字电路测试生成

• 作者: 侯艳丽 赵春晖
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 粒子群算法 故障模拟 测试生成 数字电路
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TP929
• 字数: 3710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2006.06.005

摘要

在已有的数字电路测试生成算法基础上,通过对一种结构简单且容易实现的算法--粒子群算法的研究,提出了一种基于模拟的测试矢量生成的新方法,即应用粒子群算法来进行数字电路的测试生成.对一些组合电路进行了仿真,并将其与基于遗传算法的测试生成方法进行比较,实验结果表明该方法比基于遗传算法的测试生成更为有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵春晖	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	364	3419	27.0	39.0
2	侯艳丽	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	8	35	4.0	5.0