片上电感的研究

• 作者: 潘武 赵伟
• 来源期刊: 重庆邮电学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 射频集成电路 片上电感 邻近效应 趋肤效应 涡流损耗
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 通信与电子
• 页码范围: 17-21
• 页数: 5页
• 分类号: TN622
• 字数: 2901字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-825X.2006.01.005

摘要

片上电感是射频集成电路中必不可少的元件.通过讨论了影响电感品质因数恶化的因素,如趋肤效应、邻近效应和涡流损耗等,对片上电感的单Ⅱ和双Ⅱ集总参数模型进行了分析比较,分析了多种优化方案,并提出了提高片上电感Q值的研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘武	重庆邮电学院微光机电系统研究所	63	272	8.0	13.0
2	赵伟	重庆邮电学院微光机电系统研究所	2	6	1.0	2.0