Au与p-CZT晶体的接触特性及其CZT表面处理状态的影响

• 作者: 介万奇 傅莉 李强 杨戈 查钢强 汪晓芹
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: Schottky接触 钝化 I-V特性
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 630-631,634
• 页数: 3页
• 分类号: TN304.2
• 字数: 1675字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2006.04.037

摘要

对不同腐蚀、钝化表面处理的CZT晶片与Au接触的I-V特性进行了研究.用XPS分析了钝化前后CZT晶体表面成分,发现钝化后CZT晶片表面形成厚度为3.1nm的TeO2氧化层.用Agilent 4339B高阻仪进行未腐蚀、腐蚀与腐蚀钝化的CZT晶片I-V特性测试,结果表明腐蚀和腐蚀钝化均能不同程度提高Au/p-CZT接触的势垒高度,相应地减小了漏电流.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	介万奇	西北工业大学材料科学与工程学院	272	1636	19.0	27.0
2	李强	西北工业大学材料科学与工程学院	116	784	15.0	18.0
3	杨戈	西北工业大学材料科学与工程学院	5	16	2.0	3.0
4	傅莉	西北工业大学材料科学与工程学院	75	535	14.0	20.0
5	查钢强	西北工业大学材料科学与工程学院	38	93	5.0	7.0
6	汪晓芹	西北工业大学材料科学与工程学院	8	24	2.0	4.0