1．06μm连续激光辐照TiO2／SiO2/K9薄膜元件的损伤效应

• 作者: 周维军 桂元珍 沈志学 袁永华
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: TIO2/SIO2 连续激光辐照 薄膜元件 损伤效应 光电系统 光学系统 元件组成 辐射能量
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 277
• 页数: 1页
• 分类号: O437

摘要

光学系统是由不同的光学元件组成，在光电系统中的主要作用是收集、会聚目标的辐射能量，是影响光电系统成像质量的重要部件。薄膜元件的损伤和破坏将导致光电系统功能失效。研究的TiO2／SiO2薄膜元件靠近探测器前表面，探测器未被激光损伤的情况下，激光对TiO2／SiO2薄膜元件的损伤或者破坏同样可以使光电系统失效。因此，不同强度下连续激光辐照TiO2／SiO2薄膜元件引起的损伤效应是激光对抗典型光电装置的重要研究内容。