基于统计公差和质量损失的公差设计

• 作者: 匡兵 张晶 钟艳如 黄美发
• 来源期刊: 系统仿真学报
• 学科: 工学
• 关键词: 公差设计 统计公差 质量损失 制造成本 遗传算法
• 年，卷（期）: 2006,（z2）
• 所属期刊栏目: VP、VM、CAE/CAD/CAM/CIMS、SBA
• 页码范围: 526-528,532
• 页数: 4页
• 分类号: TG8
• 字数: 3030字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-731X.2006.z2.150

摘要

公差设计是产品设计的重要组成部分并直接影响到产品的实际生产成本.在传统的公差设计中,很少同时考虑质量损失和统计公差,因而采用传统的设计方法很难得到公差的最优解.基于产品的质量损失,利用公差-成本关系和统计公差的方法,建立了公差设计的优化模型,并应用遗传算法进行装配公差的分配.该模型以制造成本与质量损失成本之和为目标函数,以加工能力和功能要求为约束条件.最后通过齿轮装配体公差分配的一个例子来说明所提出方法和模型的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟艳如	桂林电子科技大学计算机系	96	668	13.0	21.0
2	匡兵	桂林电子科技大学机电与交通工程系	60	359	10.0	17.0
3	黄美发	桂林电子科技大学机电与交通工程系	178	1094	15.0	23.0
4	张晶	桂林电子科技大学机电与交通工程系	4	47	3.0	4.0