X射线用Kirkpatrick-Baez显微镜成像质量的研究

• 作者: 潘宁宁 王占山 秦树基 陈玲燕 顾春时
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 掠入射成像系统 X射线 光线追迹 空间分辨率 角度公差
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 61-65
• 页数: 5页
• 分类号: TL651
• 字数: 2527字
• 语种: 中文

摘要

对惯性约束聚变的一种重要诊断方法--Kirkpatrick-Baez型结构显微镜成像方法进行了研究.计算了Kirkpatrick-Baez型结构显微镜的主要像差,并分析得出:造成轴上点像差的主要因素是球差,占像差的94%.基于光线追迹方法模拟出这种结构的成像过程,比较了不同反射镜长随视场变化对物面分辨率的影响,发现为了保证物面的空间分辨率能达到ICF研究要求视场应尽量控制在200 μm以内.最终得出能量在8 keV、视场为200 μm,分辨率小于10 μm的Kirkpatrick-Baez型结构的模型.提出在装调过程中重要公差计算方法,得到数值孔径为0.003 7时,角度装调公差应在-0.087°～0.067°范围内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈玲燕	同济大学物理系	60	522	13.0	19.0
2	王占山	同济大学物理系	92	640	14.0	19.0
3	秦树基	同济大学物理系	24	190	9.0	12.0
4	顾春时	同济大学物理系	9	32	4.0	5.0
5	潘宁宁	同济大学物理系	1	8	1.0	1.0