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基本电路理论测试系统的开发和诊断算法研究
基本电路理论测试系统的开发和诊断算法研究
作者:
张靓
陈洪亮
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
实验室
考试
练习
学习诊断
现代考试理论
知识地图
摘要:
对基于实验室机房的在线习题考试系统功能和相关学习成效诊断算法进行了初步的介绍.在说明算法时介绍了现代考试理论中的试题反映理论和知识地图的概念.
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文献信息
篇名
基本电路理论测试系统的开发和诊断算法研究
来源期刊
实验室研究与探索
学科
工学
关键词
实验室
考试
练习
学习诊断
现代考试理论
知识地图
年,卷(期)
2006,(5)
所属期刊栏目
实验技术
研究方向
页码范围
572-575
页数
4页
分类号
TP3
字数
4537字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1006-7167.2006.05.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈洪亮
上海交通大学电子信息与电气工程学院
74
499
12.0
19.0
2
张靓
上海交通大学电子信息与电气工程学院
2
2
1.0
1.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
实验室
考试
练习
学习诊断
现代考试理论
知识地图
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
实验室研究与探索
主办单位:
上海交通大学
出版周期:
月刊
ISSN:
1006-7167
CN:
31-1707/T
开本:
大16开
出版地:
上海华山路1954号交大教学三楼456、457室
邮发代号:
4-834
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
14661
总下载数(次)
46
总被引数(次)
128204
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