基于自适应SAGA的测试数据自动生成

• 作者: 冯博琴 卫鹏 朱利 郭斌 高海昌
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试数据自动生成 模拟退火算法 遗传算法 自适应 SAGA
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 页码范围: 10-13,16
• 页数: 5页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.08.004

摘要

结合遗传算法(GA)的并行搜索结构和模拟退火(SA)的概率突跳性,并结合使用自适应的交叉算子和变异算子,提出了一种高效的自适应的SAGA混合优化算法.在自主开发的结构性测试工具WBoxTool中,使用自适应SAGA混合优化策略进行测试数据自动生成,并通过实例对基本遗传算法、自适应遗传算法和自适应SAGA进行了比较,结果表明自适应SAGA具有更强的搜索能力,可以更快的发现全局最优解.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯博琴	西安交通大学电子与信息工程学院	171	3268	30.0	50.0
2	高海昌	西安交通大学电子与信息工程学院	15	328	7.0	15.0
3	郭斌	西安交通大学电子与信息工程学院	11	70	5.0	8.0
4	朱利	西安交通大学软件学院	61	704	11.0	25.0
5	卫鹏	西安交通大学软件学院	2	14	2.0	2.0