XRF方法在测量纸张厚度中的应用

• 作者: 程峰 赖万昌 郭伟 郭生良
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光 纸张 质量厚度 散射射线
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 958-961
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2007.05.037

摘要

本文的目的是研究XRF法在纸张厚度测量上的应用.采用X射线荧光吸收法和源初级射线散射法分别对一批纸张样品质量厚度进行测量,并对测量结果进行对比,作出有益的讨论.测量是采用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射线荧光分析仪,探测器选用Si-PIN电致冷半导体探测器,同位素源采用双激发源(238Pu).实验表明:X射线荧光吸收法在纸张厚度测量上的准确度要比源初级射线散射法好,采用源初级射线散射法对于纸张厚度的测量也是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赖万昌	成都理工大学核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
2	郭伟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	9	55	5.0	7.0
3	程峰	成都理工大学核技术与自动化工程学院	6	53	5.0	6.0
4	郭生良	成都理工大学核技术与自动化工程学院	6	33	4.0	5.0