基于优势点检测的晶粒轮廓非均匀B样条逼近

• 作者: 尹衍升 杨波 赵秀阳
• 来源期刊: 中国科学E辑
• 学科: 物理学
• 关键词: 复合材料 B样条 优势点 控制点 晶粒轮廓
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 851-856
• 页数: 6页
• 分类号: O7
• 字数: 3519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1006-9275.2007.07.001

摘要

进行复合材料三维重构的一个重要步骤是获取晶粒轮廓简洁的、光顺的数学表达. 在利用小波变换技术和Level set技术得到陶瓷复合材料晶粒闭合边缘的基础上, 根据晶粒轮廓的特点, 研究了其特征型值点的合理提取方法: 提取晶粒轮廓上高曲率的点作为候选点, 利用自适应弯曲度来确定曲线上每个点的支撑区间, 计算评价曲率, 依据评价曲率和最大采样间隔确定合理的优势点. 采用周期非均匀3次B样条曲线逼近的方法, 得到控制误差条件下最简洁的晶粒轮廓曲线. 根据所传递的候选节点矢量, 采用柔性间距选择, 获取序列轮廓的共同的节点矢量, 采用蒙皮技术获得陶瓷复合材料晶粒的3次B样条曲面模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨波	武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室	57	392	11.0	16.0
2	尹衍升	中国海洋大学材料学院	78	755	15.0	23.0
3	赵秀阳	济南大学信息学院	11	33	4.0	5.0