基于校正率的红外焦平面阵列非均匀性校正评估新方法

• 作者: 汪民 沈伟 陈彬
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 非均匀性校正 校正率 非均匀性特性
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 56-60
• 页数: 5页
• 分类号: TN2
• 字数: 4806字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2007.01.013

摘要

提出一种新的能对非均匀性校正效果进行定量计算的评估测度"校正率",并进行了实验验证.校正率以时域噪声为参考标准来衡量图像非均匀特性,不仅可以反映图像显示效果,还可以反映图像测温精度.该方法可用于IRFPA系统的性能评价和非均匀性校正方法校正效果评价,对非均匀性校正的研究具有重要意义.