铬掺杂0.2PZN-0.8PZT压电陶瓷的XRD和Raman散射分析

• 作者: 侯永改 周文俊 栗政新 王改民 许德合 路朋献 马秋花
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Cr掺杂 0.2PZN-0.8PZT X光衍射 拉曼散射 压电陶瓷
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 69-72,80
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3764字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2007.01.016

摘要

采用XRD与Raman散射研究了Cr掺杂0.2PZN-0.8PZT压电陶瓷微观结构的变化.Cr掺杂导致三方-四方相变和晶体四方度增大,Raman散射关于晶格参数和相结构的分析得到了XRD的验证.通过研究不同结构中Raman振动模式,可揭示掺杂诱导的两相共存压电陶瓷微观结构的变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	栗政新	河南工业大学材料科学与工程学院	16	62	5.0	7.0
2	侯永改	河南工业大学材料科学与工程学院	55	335	10.0	15.0
3	马秋花	河南工业大学材料科学与工程学院	37	201	8.0	12.0
4	王改民	河南工业大学材料科学与工程学院	28	129	6.0	10.0
5	许德合	信息工程大学测绘学院	8	70	5.0	8.0
6	路朋献	河南工业大学材料科学与工程学院	17	107	6.0	10.0
7	周文俊	河南工业大学材料科学与工程学院	1	2	1.0	1.0