Pb1-xMnxTe稀磁半导体外延薄膜的光学特性

• 作者: 吴惠桢 夏明龙 徐天宁 戴宁 斯剑霄 王擎雷 谢正生
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Pb1-xMnxTe外延薄膜 红外透射谱 折射率 光学带隙
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 261-264
• 页数: 4页
• 分类号: O472+.3|O471.5|O484.4+1
• 字数: 3559字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2007.04.005

摘要

采用分子束外延(MBE)方法在BaF2(111)衬底上生长了不同Mn组分的Pb1-xMnxTe(0≤x≤0.012)稀磁半导体薄膜.通过波长为3.0～11.0 μm中红外透射谱的分析并应用透射光谱上干涉峰峰值的位置计算获得了Pb1-xMnxTe薄膜的折射率,由最小平方根拟合得到折射率的一阶Sellmeier色散关系.在吸收边附近,通过直接跃迁吸收系数与光子能量的关系外推得到其光学带隙.结果表明,在中红外区域其折射率随着Mn含量的增加而减小,其光学带隙则随着Mn含量的增加而增大,在温度T=295K时,随着Mn含量x由0变化到0.012,其光学带隙Eg由0.320eV增加到0.370eV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	斯剑霄	浙江大学物理系	11	31	3.0	5.0
2	王擎雷	浙江大学物理系	5	8	2.0	2.0
3	吴惠桢	浙江大学物理系	37	219	9.0	12.0
4	徐天宁	浙江大学物理系	18	56	5.0	5.0
5	夏明龙	浙江大学物理系	5	8	2.0	2.0
6	戴宁	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	55	315	11.0	15.0
7	谢正生	中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室	7	28	3.0	5.0