半导体桥电容放电特性研究

• 作者: 张垒 张琳 徐大伟 朱顺官 马鹏
• 来源期刊: 火工品
• 关键词: 半导体桥 放电特性 电压电流曲线
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 1-4
• 分类号: TJ450.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1480.2010.02.001

摘要

通过分析半导体桥(Semiconductor Bridge,SCB)在相同电容不同电压下的电压电流曲线和桥面的烧蚀情况,研究了SCB的放电特性.实验发现:在相同电容下,随着充电电压的升高,SCB从无等离子体到有等离子体产生,且桥面的烧蚀程度增大.在低电压无等离子体时,电压和电流几乎同时断开;高电压产生等离子体时,由于等离子体是导体,在电压断开后电流持续一段时间断开.小电容放电时,其时间常数较小,较小的能量就可以将药剂点燃.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱顺官	南京理工大学化工学院	69	437	10.0	18.0
2	张琳	南京理工大学化工学院	67	748	13.0	25.0
3	马鹏	南京理工大学化工学院	9	52	6.0	7.0
4	徐大伟		15	86	6.0	8.0
5	张垒	南京理工大学化工学院	6	35	4.0	5.0