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电子产品可靠性与环境试验期刊
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磁盘访问时间的近似计算方法
磁盘访问时间的近似计算方法
作者:
吴翠娟
李冬
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
磁盘访问时间
随机变量
访问概率
摘要:
传统的磁盘访问时间由磁头寻道、盘片旋转和磁头读写3部分累加得出,通过引入随机变量和访问概率等数学工具来计算磁盘访问时间,具有精确度更高、实用价值强等优点.
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篇名
磁盘访问时间的近似计算方法
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
磁盘访问时间
随机变量
访问概率
年,卷(期)
2007,(1)
所属期刊栏目
计算机科学与技术
研究方向
页码范围
51-53
页数
3页
分类号
TP3
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2007.01.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
吴翠娟
27
72
4.0
7.0
2
李冬
19
48
4.0
6.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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版权信息
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引文网络
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2012(1)
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研究主题发展历程
节点文献
磁盘访问时间
随机变量
访问概率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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