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摘要:
简要分析半导体设备中干扰产生的原因、危害及一般抗干扰的原则;从干扰形成的三要素入手,重点介绍半导体设备设计、制造及维修中一些行之有效的抗干扰的方法.
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文献信息
篇名 半导体设备中的抗干扰技术
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 干扰源 干扰途径 干扰易受体 抗干扰措施
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目 新技术应用
研究方向 页码范围 40-43
页数 4页 分类号 TN972
字数 2890字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2007.06.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 路孟喜 中国电子科技集团公司第十三研究所 3 8 1.0 2.0
2 刘德明 中国电子科技集团公司第十三研究所 2 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
干扰源
干扰途径
干扰易受体
抗干扰措施
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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