遗传蚂蚁算法(GAAA)在数字电路智能测试中的应用

• 作者: 孙世宇 梁彦 潘泉 耶刚强
• 来源期刊: 火力与指挥控制
• 学科: 工学
• 关键词: 遗传算法 蚂蚁算法 测试生成 数字电路
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 137-140
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 字数: 3423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0640.2007.11.039

摘要

随着VLSI设计规模的日益增大,对于电路的测试生成(Automatic Test Pattern Generation.ATPG)也有了新的要求.提出了一种基于遗传算法和蚂蚁算法融合的数字电路智能测试生成算法,克服了传统算法计算量大、需对电路逻辑有较深刻认识的缺陷,而且也避免了以往的遗传算法和蚂蚁算法容易陷入局部最优的不足.研究表明这种算法效果较同类其他算法好,而且在大规模电路中尤能显示其特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁彦	西北工业大学自动化学院	156	2615	26.0	46.0
2	潘泉	西北工业大学自动化学院	544	9437	45.0	77.0
3	孙世宇	西北工业大学自动化学院	5	49	3.0	5.0
4	耶刚强	西北工业大学自动化学院	4	56	3.0	4.0