聚酰亚胺(PI)膜碳化过程中结构和性能变化研究

• 作者: 亓淑英 沈曾民 迟伟东
• 来源期刊: 材料科学与工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: PI薄膜 碳化 结构 性能
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 115-117,101
• 页数: 4页
• 分类号: TQ323
• 字数: 2961字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2812.2007.01.029

摘要

研究了聚酰亚胺薄膜在不同碳化温度下,材料内部结构转变规律及其对材料性能的影响.研究结果表明,在温度区间500℃～650℃之间材料质量损失明显,达到28%;600℃材料开始向晶体结构转变,700℃逐渐衍生出类石墨结构;700℃左右材料力学和电学性能出现转折点,这正与材料结构的转变相呼应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈曾民		100	2009	24.0	41.0
2	迟伟东		42	459	11.0	20.0
3	亓淑英		1	14	1.0	1.0