keV 质子辐照对Kapton/Al光学性能的影响

• 作者: 何世禹 李春东 李瑞琦 杨德庄 肖景东
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 质子辐照 Kapton/Al薄膜 光学性能 光能隙 光谱反射系数
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 500-502
• 页数: 3页
• 分类号: O483|O433.4
• 字数: 2116字
• 语种: 中文

摘要

采用空间综合辐照设备对Kapton/Al薄膜进行了质子辐照地面模拟试验,选取质子能量90 keV,辐照通量5.0×1011 cm-2·s-1.通过辐照前后光谱反射系数的变化考察了实验样品的光学性能退化特征.借助于反射光谱和紫外-可见吸收光谱和傅里叶转换红外光谱分析技术分析了辐照后Kapton/Al光学性能的退化机理.研究结果表明:辐照过程中样品表面发生了复杂的化学反应,随着辐照剂量的增加光能隙逐渐减小,Kapton吸收曲线的末端边缘发生红移并且在可见光区吸收强度增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何世禹	哈尔滨工业大学空间材料与环境工程重点实验室	122	1160	17.0	24.0
2	李春东	哈尔滨工业大学空间材料与环境工程重点实验室	19	89	6.0	8.0
3	杨德庄	哈尔滨工业大学空间材料与环境工程重点实验室	96	1343	20.0	30.0
4	李瑞琦	哈尔滨工业大学空间材料与环境工程重点实验室	15	121	7.0	10.0
5	肖景东	哈尔滨工业大学空间材料与环境工程重点实验室	6	37	4.0	6.0