同步时序电路中组合冗余故障识别技术

• 作者: 苏群星 谷宏强 郭希维
• 来源期刊: 兵工自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 不可测故障 组合冗余 迭代逻辑阵列 自动测试模式生成
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 自动测量与控制
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 分类号: TP206.3
• 字数: 2110字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1576.2007.02.039

摘要

对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出.基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示.并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可用长度为1的ILA实现.故可由此简化不可测故障的识别过程.并通过时序电路中的组合冗余故障识别以验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭希维	军械工程学院导弹工程系	26	69	5.0	7.0
2	谷宏强	军械工程学院导弹工程系	44	220	7.0	11.0
3	苏群星	军械工程学院导弹工程系	27	280	10.0	16.0