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基于PIC单片机控制的光耦老化台的设计
基于PIC单片机控制的光耦老化台的设计
作者:
栾伟峰
茅伟峰
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
反馈控制
PIC
多点比较
模糊控制
摘要:
根据高可靠光耦的老化要求,设计和制造了采用PIC系列单片机控制的光电耦合器老化设备.具体介绍了老化台的单元反馈电路,用PIC单片机实现对电源自动控制、960位器件老化的实现方法;为设备的改造指出新的出路.
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文献信息
篇名
基于PIC单片机控制的光耦老化台的设计
来源期刊
科学技术与工程
学科
工学
关键词
反馈控制
PIC
多点比较
模糊控制
年,卷(期)
2007,(11)
所属期刊栏目
研究简报
研究方向
页码范围
2659-2661
页数
3页
分类号
TP273.4
字数
1171字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1671-1815.2007.11.050
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
栾伟峰
5
2
1.0
1.0
2
茅伟峰
2
1
1.0
1.0
传播情况
被引次数趋势
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(0)
2007(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
反馈控制
PIC
多点比较
模糊控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
科学技术与工程
主办单位:
中国技术经济学会
出版周期:
旬刊
ISSN:
1671-1815
CN:
11-4688/T
开本:
大16开
出版地:
北京市海淀区学院南路86号
邮发代号:
2-734
创刊时间:
2001
语种:
chi
出版文献量(篇)
30642
总下载数(次)
83
总被引数(次)
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