热处理温度对MOD-YBCO薄膜微结构和超导电性的影响

• 作者: 丁发柱 古宏伟 吕旭东 李弢 王连红
• 来源期刊: 稀有金属
• 学科: 工学
• 关键词: YBCO TFA-MOD 涂层导体 超导电性
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 459-462
• 页数: 4页
• 分类号: TM26
• 字数: 2331字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-7076.2008.04.013

摘要

采用TFA-MOD法在LaAlO3基体上制备YBCO薄膜, 热处理温度为780～860 ℃.XRD结果表明, 热处理温度在780～820 ℃之间时, 随着热处理温度的提高, YBCO薄膜中BaF2逐渐减少, a轴生长的晶粒和杂质相减少, c轴生长的晶粒增加;热处理温度在820～860 ℃之间时, 随着热处理温度的升高, 薄膜中a轴生长的晶粒增加, c轴生长的晶粒减少;SEM分析发现, YBCO薄膜表面较平整, 无裂纹;超导性能测试结果表明, 热处理温度为820 ℃的YBCO薄膜的临界电流密度Jc可达1 MA·cm-2(77 K, 0 T).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	古宏伟		33	206	6.0	13.0
2	李弢		21	85	5.0	8.0
3	吕旭东		3	18	3.0	3.0
4	王连红		4	7	2.0	2.0
5	丁发柱		6	21	3.0	4.0