X射线法测量锗单晶的应力

• 作者: 冯德伸 王思爱 王超群 纪红
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射 锗单晶 应力 不对称布拉格衍射
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 试验技术与方法
• 页码范围: 303-305,308
• 页数: 4页
• 分类号: O782
• 字数: 2100字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2008.06.008

摘要

采用Hiroshi Suzuki等人提出的新的单晶应力测量原理,结合不对称布拉格衍射技术,对锗单晶的应力进行了测量.这种方法的优点在于利用多组试验数据求解多元线性回归方程,从而消除了一般单晶应变测定方法中无应变状态下晶面间距不准确对结果所带来的影响.该法可以推广应用于其他单晶体的应力测量和高织构取向材料的X射线应力测量.