单晶应力的X射线测量方法

• 作者: 刘淑凤 樊志罡 王书明 王超群 纪红
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 单晶 应力 线性回归
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 1103-1107
• 页数: 5页
• 分类号: O733
• 字数: 3778字
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了X射线测量单晶应力的原理和方法,测量了Si单晶的应力,比较了双晶摇摆和三轴晶ω～2θ扫描对结果的影响,考察了计算过程中数据组个数,无应力布拉格角θ_0对应力测量的影响.结果表明,采用三轴晶ω～2θ扫描比双晶摇摆更准确,多重线性回归方法对θ_0依赖性很小,但测量数据组个数不应低于6.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	纪红		11	40	3.0	6.0
2	王书明		14	79	6.0	8.0
3	王超群		31	130	6.0	9.0
4	樊志罡		6	10	2.0	3.0
5	刘淑凤		9	41	4.0	6.0