质子SEL影响因素分析

• 作者: 师谦 汪俊 邓文基
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子闩锁 闩锁横截面 线能量传输
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 50-53
• 页数: 4页
• 分类号: TN405
• 字数: 4683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.07.016

摘要

主要对质子单粒子闩锁(SEL)的影响因素进行了分析.首先介绍了质子SEL原理.然后对电路质子SEL有重要影响的四个影响因素一封装、新材料的应用、质子能量和质子入射方向进行了详细分析.分析结果表明.要研究最坏情况下地球辐射带中质子SEL,需要在较高环境温度情况下(一般取125℃).使用能量大于400MeV的质子在斜入射和垂直入射时对SEL进行同时研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓文基	华南理工大学微电子所	32	145	7.0	10.0
2	师谦		11	64	5.0	8.0
3	汪俊	华南理工大学微电子所	3	5	1.0	2.0