电路板锡膏均匀性参数检测系统

• 作者: 刘斌 孙长库 张效栋 邓小兵 马俊
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 结构光测量 系统标定 锡膏均匀性参数 平面拟合
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 精密测量
• 页码范围: 278-283
• 页数: 6页
• 分类号: TH741.4
• 字数: 2926字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2008.04.008

摘要

建构了电路板锡膏的三雏测量系统,实现了印刷锡膏均匀性参数的获取,从而达到对表面贴装质量进行监控和评价的目的.该系统基于线结构光测量原理,借助扫描技术实现三维轮廓测量.利用 Tsai 的径向排列约束法标定摄像机参数,由特制的棱角标定块实现光平面参数的标定.提出了电路板基层面自动确定方法,即根据图像特性实现锡膏和基层面的分离;并采用主元素分析法进行平面拟合,实现锡膏均匀性参数的计算和统计.采用该实验设备在半导体生产线上进行了大量测量,实验结果表明该系统操作简单、稳定可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘斌	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	52	618	15.0	23.0
2	孙长库	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	95	1115	19.0	27.0
3	张效栋	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	29	254	8.0	15.0
4	马俊	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	3	13	2.0	3.0
5	邓小兵		1	8	1.0	1.0