基于非齐次泊松过程的软件可靠性增长模型

• 作者: 杜献峰
• 来源期刊: 河南理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 随机过程 非齐次泊松过程 软件可靠性模型
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 328-332
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.11
• 字数: 3960字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9787.2008.03.015

摘要

非齐次泊松过程软件可靠性增长模型是评测软机可靠性的重要工具,影响软件可靠性的2个重要参数是软件中初始的故障数和故障检测率.通过对软件错误分布进行定义,建立了非齐次泊松过程软件可靠性模型,并对不同参数下的模型进行了分析和比较.讨论了非齐次泊松过程模型的使用条件,对模型初始的故障数和故障检测率参数进行了推导,并给出了评估方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜献峰	中原工学院计算机学院	25	173	7.0	12.0