非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型

• 作者: 刘宏伟 曲峰 杨孝宗 赵金华
• 来源期刊: 同济大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 软件可靠性 增长模型 故障覆盖率 非齐次泊松过程 软件可靠性建模
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1071-1074
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.5
• 字数: 3212字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2004.08.020

摘要

现有的基于故障覆盖率的软件可靠性增长模型多是只考虑了累计故障覆盖率,没有描述每个测试用例能够获得的故障覆盖率.为了使软件可靠性增长模型能更好地刻画软件的测试过程,建立了两个基于故障覆盖率的非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型.第一个模型假设每个测试用例有相同的故障检测能力,能获得相同的故障覆盖率;第二个模型考虑了越晚检测到的故障其被检测到的概率越低的特点,模型假设每个测试用例的故障检测能力与其出现的次序相关.利用一组公开发表的软件失效数据对这两个模型进行了验证,结果表明这两个模型在这组失效数据上均能得到较好的拟合效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏伟	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	88	834	16.0	25.0
2	杨孝宗	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	149	1684	23.0	33.0
3	曲峰	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	22	260	10.0	15.0
4	赵金华	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	5	49	2.0	5.0