含有五元环-七元环缺陷的单壁纳米碳管的能带结构分析

• 作者: 戴剑锋 戴彤 王伟
• 来源期刊: 兰州理工大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 纳米碳管 输运性质 能带结构 异质结
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 数理科学
• 页码范围: 164-168
• 页数: 5页
• 分类号: O561.2
• 字数: 4378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5196.2008.02.038

摘要

运用第一性原理的计算方法结合非平衡格林函数(NEGF)和密度泛函理论(DFT)计算带有五元环-七元环拓扑缺陷对的单壁纳米碳管(SWNTs)的输运性质,同时计算(7,0)-(8,0)和(8,0)-(9,0)两种不同类型的纳米碳管异质结的能带结构并比较其与理想(7,0)、(8,0)、(9,0)碳管的不同.结果表明:五元环-七元环拓扑缺陷对碳管在费米能级附近的输运特性有着很大的影响;不同类型的碳管的连接方式对碳管输运性质的影响也有明显的差异.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴剑锋	兰州理工大学理学院	92	405	10.0	15.0
2	戴彤	兰州理工大学理学院	3	26	3.0	3.0
3	王伟	兰州理工大学理学院	23	91	6.0	7.0