近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能影响研究

• 作者: 丁义刚 冯伟泉 刘宇明 沈自才 赵春晴 赵雪 郑慧奇
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 近紫外辐照 OSR 表面电阻率 导电性能
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 空间特殊环境效应
• 页码范围: 438-440
• 页数: 3页
• 分类号: V416.5
• 字数: 2980字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2008.05.007

摘要

文章研究了近紫外辐照试验前后OSR二次表面镜的电学性能变化规律,利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)对近紫外辐照后的涂层表面形貌和成分进行了分析,进而探讨了近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能变化机理.研究发现,OSR二次表面镜的表面电阻率随着紫外辐照度的增加而指数减小,氧空位吸附氧的解析、In-O键的断裂和氧空位的增加是近紫外辐照OSR二次表面镜表面电阻率降低,导电性能增强的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	赵春晴		26	136	6.0	10.0
3	丁义刚		46	369	10.0	17.0
4	郑慧奇		28	115	7.0	9.0
5	刘宇明		38	223	8.0	13.0
6	冯伟泉		51	318	10.0	15.0
7	赵雪		14	88	6.0	8.0