双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究

• 作者: 何晶靖 姜德志 孙晓君 石均 谢劲松 郭伟
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可控硅 触发象限 电路仿真 失效
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 39-44
• 页数: 6页
• 分类号: TN342+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.05.009

摘要

针对双向可控硅在不同触发象限条件下的触发特性进行了实验研究.考察了可控硅在上述条件下的不同触发特性,明确了各种象限触发之间的特性差异,并重点通过对上述各种触发情况进行pspice建模,解释了实验中所观察到的可控硅在不同象限情况下存在触发特性差异的原因.为后续的不同象限触发对于可控硅的使用可靠性和寿命影响的研究提供了理论和试验依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢劲松	北京航空航天大学可靠性工程研究所	32	499	10.0	22.0
2	郭伟	北京航空航天大学可靠性工程研究所	27	140	6.0	11.0
3	孙晓君	北京航空航天大学可靠性工程研究所	5	29	3.0	5.0
4	何晶靖	北京航空航天大学可靠性工程研究所	4	14	3.0	3.0
5	石均		1	3	1.0	1.0
6	姜德志		1	3	1.0	1.0