一种基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法

• 作者: 成丽丽 梁华国 欧阳一鸣
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数据块相关性 统计 参考数据块 数据压缩
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 298-302
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 4773字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2008.02.016

摘要

为了解决系统芯片(SoC)测试过程中自动测试设备(ATE)在存储空间以及带宽等方面所面临的问题,本文提出了一种新的基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法.以测试向量为单位,先用算法确定一个具有最好相关性的数据块作为该向量的参考数据块,再利用它与该向量中数据块的相关性进行压缩.且每个向量的参考数据块长度相互独立.其解压结构只需要一个有限状态机(FSM)、一个5位暂存器和一个与参考数据块等长的循环扫描移位寄存器(CSR)即可,硬件开销小,对ISCAS-89标准电路Mintest集的压缩结果表明,本文提出方案较同类编码方法有更高的压缩效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
3	成丽丽	合肥工业大学计算机与信息学院	2	25	2.0	2.0