激光辐照TiO2／SiO2薄膜损伤时间简捷测量

• 作者: 周维军 桂元珍 袁永华
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜损伤 TIO2/SIO2 时间测量 激光辐照 激光功率 光电探测系统 激光技术 损伤阈值
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 105-106
• 页数: 2页
• 分类号: TN24

摘要

随着激光技术的快速发展，激光功率有了很大的提高，这对于光电探测系统来说是一个致命的威胁。任何一种薄膜在激光功率超过薄膜的损伤阈值时，薄膜就被破坏，光电系统就要面临失效。目前尚未见薄膜损伤时间测量的报道。文中研究不同功率激光辐照薄膜的损伤时间。