逻辑分析仪在混沌序列特性测试中的应用

• 作者: 丁丽娜 丁群 杨自恒 黄巍
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑分析仪 混沌序列 随机序列 性能分析
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 测量技术与方法
• 页码范围: 29-33
• 页数: 5页
• 分类号: TP309
• 字数: 4344字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2008.11.008

摘要

混沌序列在保密通信和信息加密中起到重要作用,如何对混沌序列进行测试与分析成为一个问题,本文在介绍了安捷伦1693A逻辑分析仪使用方法的基础上,研究了利用逻辑分析仪对混沌序列进行特性测试与分析的方法,并在实际混沌序列测试中得到具体应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁群	黑龙江大学信号与信息重点实验室	53	349	12.0	15.0
2	杨自恒	黑龙江大学信号与信息重点实验室	25	47	4.0	6.0
3	丁丽娜	黑龙江大学信号与信息重点实验室	3	20	2.0	3.0
4	黄巍		3	6	1.0	2.0