对某电子设备电磁耦合效应的实验分析

• 作者: 张荣奇 谢鹏浩 谭志良
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: FEKO 孔缝 电磁耦合 电子设备
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 装备电磁防护理论与技术
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: O441.5|TP339
• 字数: 2391字
• 语种: 中文

摘要

利用电磁仿真软件FEKO建立了设备模型和所需的电磁场环境,对某型电子设备的电磁耦合规律进行仿真实验,并依此参考进行了实地测试.实验数据表明:频率在400 MHz以上时设备内部准中心位置有中心聚集效应和明显的窗口耦合,内部设备附近产生强耦合场;开门破坏了设备内部谐振腔,造成内部谐振场强幅度变小,电源线接口处电场强度较高,电磁能量易被耦合入电源系统,需要采取保护措施.仿真结果为实际试验和具有类似尺寸孔隙的设备提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭志良	军械工程学院弹药工程系	62	313	9.0	15.0
2	谢鹏浩	军械工程学院弹药工程系	18	58	3.0	7.0
3	张荣奇	军械工程学院弹药工程系	10	53	3.0	7.0