锗硅量子点掠入射小角X射线散射研究

• 作者: 何庆 姜晓明 崔健 林健晖 王玉柱 蒋最敏 薛宪营 贾全杰 陈雨
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 锗硅 量子点 掠入射小角X射线散射
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 250-254
• 页数: 5页
• 分类号: O434.14|O766
• 字数: 4072字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.04.003

摘要

采用同步辐射X射线对MBE制备的锗硅量子点试样进行了掠入射小角X射线散射(GISAXS,grazing incidence small angle X-ray scattering)研究.根据AFM测量得到的量子点尺寸、形状和间距等参数,采用DWBA理论以及合适的分布函数,利用IsGISAXS程序对一维和二维GISAXS测量结果进行了模拟,模拟结果与实验数据符合很好,表明GISAXS是一种探测锗硅量子点尺寸、形状和分布等结构信息有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜晓明	中国科学院高能物理研究所	21	198	7.0	14.0
2	蒋最敏	复旦大学表面物理实验室	24	93	5.0	9.0
3	陈雨	中国科学院高能物理研究所	22	63	5.0	7.0
4	贾全杰	中国科学院高能物理研究所	18	57	3.0	7.0
5	王玉柱	中国科学院高能物理研究所	15	56	3.0	7.0
6	薛宪营	中国科学院高能物理研究所	1	1	1.0	1.0
7	崔健	复旦大学表面物理实验室	1	1	1.0	1.0
8	林健晖	复旦大学表面物理实验室	1	1	1.0	1.0