微通道板在12～40 nm波段的量子效率测量

• 作者: 尼启良 李敏 范鲜红 陈波
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 极紫外 微通道板 量子效率
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN144
• 字数: 2333字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2008.01.001

摘要

提出了一种测量微通道板(MCP)量子效率的方法.该方法选用激光等离子体光源作为极紫外辐射源,使用传递标准探测器-硅光电二极管标定光源强度,用标定后的光照射待测MCP,采用直接测量电压来间接测量探测器输出电流,再计算出MCP量子效率.实验结果表明,在12～40 nm,MCP量子效率为2%～12.3%,量子效率随波长的增大呈下降趋势.测量与误差分析表明,导致MCP量子效率测量结果变化的主要因素是光源稳定性和机械转动精度.通过与计数方式测量结果比较,进一步验证了本测量方法的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈波	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	167	1116	17.0	24.0
2	尼启良	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	35	217	8.0	13.0
3	李敏	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	82	726	15.0	24.0
7	范鲜红	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室	3	11	2.0	3.0