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摘要:
针对中国科学院微电子研究所的PDSOI 8位MCUJ80C51RH设计了两套瞬态实验方法,开发了相配套的软件和硬件,并在西北核技术研究所的强光一号上进行了实验,成功地获得了所需要的数据,该MCU在剂量率为1E11 rad(Si)/s的瞬态辐照环境下工作正常.同时也证明了两套测试系统的可靠性.
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内容分析
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文献信息
篇名 一种PDSOI 8位MCU的瞬态实验与分析
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 瞬态 SOI MCU 辐照
年,卷(期) 2008,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 813-816
页数 4页 分类号 TN7
字数 1755字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.04.035
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 海潮和 中国科学院微电子研究所 72 277 9.0 13.0
2 刘刚 中国科学院微电子研究所 207 2369 24.0 40.0
3 林东生 33 148 8.0 10.0
4 郭天雷 中国科学院微电子研究所 8 33 3.0 5.0
5 赵发展 中国科学院微电子研究所 13 109 5.0 10.0
6 杨善潮 28 101 6.0 7.0
7 李瑞宾 13 28 3.0 4.0
8 蔡小五 中国科学院微电子研究所 15 38 4.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
瞬态
SOI
MCU
辐照
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
9
总被引数(次)
21728
论文1v1指导