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摘要:
研究了中等能量(30 key)Ar+注入多孔硅和中等能量(30 key)Ar+先注入单晶硅后再进行电化学腐蚀成的多孔结构的光致发光特性.研究结果表明:中等能量(30 key)Ar+注入多孔硅后,多孔硅原有的发光峰消失,主要是Ar+对多孔硅表面氧的剥离作用.使得与氧相关发光的结构消失,多孔硅不再发光;中等能量(30 kev)Ar+先注入单晶硅后冉电化学腐蚀成的多孔结构中,通常多孔硅原有的580 nIn附近发光峰强度随注入Ar+剂量的增加而增强,并有红移;同时在谱峰处于470 nm附近的微弱发光峰不因注入Ar+而明显变化.
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关键词云
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文献信息
篇名 Ar+注入多孔硅与Ar+注入硅多孔结构的光致发光研究
来源期刊 光电子·激光 学科 工学
关键词 离子注入 多孔硅 光致发光
年,卷(期) 2008,(12) 所属期刊栏目 材料
研究方向 页码范围 1640-1643
页数 4页 分类号 TN383
字数 3109字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1005-0086.2008.12.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贾振红 新疆大学信息科学与工程学院 286 1621 18.0 28.0
2 薛涛 新疆大学物理科学与技术学院 2 8 1.0 2.0
3 吕小毅 西安交通大学电子与信息工程学院 5 12 2.0 3.0
4 杨勇兵 新疆大学物理科学与技术学院 4 6 1.0 2.0
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离子注入
多孔硅
光致发光
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天津市南开区红旗南路263号
6-123
1990
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