基于显微形貌重建的XLPE电缆绝缘料纯净度测量技术

• 作者: 于效宇 刘艳 李长莉 赵洪
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 交联聚乙烯 杂质检测 数据处理 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1035-1039
• 页数: 5页
• 分类号: TP274
• 字数: 1894字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2008.05.028

摘要

本文针对交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了基于形貌重建的高速扫描测量系统.该测量系统采用现场可编程门阵列(FPGA)芯片控制高速A/D转换器采集CCD数据,根据动态阈值压缩CCD扫描图像数据并对数据进行封装处理,在保留杂质信息的前提下大幅地减少了待处理数据.封装数据通过USB2.0接口传输至上位机进行分析、记录和杂质图像重建.实验证明此系统测量实时准确,杂质形貌信息恢复完好.该系统适用于XLPE电缆绝缘料的缺陷检测和形貌测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵洪	哈尔滨理工大学电气与电子工程学院	100	1118	16.0	31.0
2	于效宇	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	8	72	5.0	8.0
3	刘艳	哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院	22	91	6.0	8.0
4	李长莉	哈尔滨理工大学电气与电子工程学院	1	6	1.0	1.0